StarLite 150半自动的桌上测量系统 

Starlite 150 是你手边一款具有交互式测量能力的全新非接触式检测系统。Starlite150 在检查和测量塑料制品、医疗器械和零部件,及在汽车、航空航天、电子工业等等行业是一个很好的选择。 产品特点
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StarLite 200-300半自动的影像测量仪 

StarLite 200 到300是一款符合你需求及预算的机器,便于聚焦和进行工件定位的精密测量仪器。StarLite测量系统在检验和测量塑料、医疗设备及零部件、汽车、航空航天、电子工业等行业是一个很好的选择。
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线激光扫描测量仪 ShapeGrabber Ai810 

Shape Grabber 3D工业扫描检测 &n
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大行程VIEW Benchmark&8482;624 

大行程、三轴测量系统 VIEW Benchmark™™624是大容量、全自动、三维尺寸测量系统。VIEW Benchmark™624的移动桥设计创造了一个开放的工作面,方便进入测量区域,并允许被测量零件
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超高精度影像测量仪VIEW Precis 200 

全新的Precis 200 是基于Micro-Metric的Innova晶圆量测系统开发而来,集成了VIEW最先进的设计和技术。新的PRECIS包括许多可配置的选项,使该系统更加通用、实用和可靠: 扩展Z轴范围-2.5mm,5mm或
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Scan-X 扫描测量分析软件 

Scan- X是一个功能强大,而又便于使用的表面轮廓测量软件,可以通过扫描后生成测量零件表面的形貌化视图。当使用Cobra激光进行轮廓扫描仪时,Scan-X分析激光扫描的数据,输出高分辨率、两维或三维的轮廓
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超大行程VIEW Benchmark&8482; XLT 

VIEW Benchmark™ XLT秉承了VIEW的高可靠性为您提供大行程、非接触式、高精度的测量性能。VIEW Benchmark™ XLT是采用测量大型零件或零组件的移动桥式设计。 先进的图像处理允许VIEW Benchma
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影像测量仪 VIEW Summit 450/625 

Summit450/600/625/800 参数介绍:       XY 精度: E2=
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高精度测量系统Pinnacle+Plus 

Pinnacle+Plus将Pinnacle系列提升到了新的水平. Pinnacle+Plus的特点是刚性花岗岩光学支撑结构和高性能Z轴运动组件,在微电子零件和组件的测量中获得尽可能低的不确定性。 最先进的线
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VIEW影像测量仪 Benchmark 450 

高价值、高精度影像测量仪 拥有大气外观的VIEW Benchmar
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